Q1、AFM测试范围最好小于多少?一般能测多大?
答:小于80×80μm;能测10×10μm、20×20μm、50×50μm。
Q2、AFM 测试数据有几种格式?
答:spm和mdt格式,分别用NanoScope Analysis、IA软件打开。
Q3、KPFM是什么?
答:开尔文探针力显微镜。
Q4、AFM粉末样品制样的常用基底有哪些?
答:常用基底有3种:HOPG(高定向石墨),MICA(云母),Si-chip(硅片)。HOPG的优点是导电,主要用于导电样品的测试。MICA和Si-chip都是常用基底,主要是提供一个平面,可以根据参考文献或之前的测试条件来选取。
Q5、为什么AFM测试中,样品表面粗糙度不能太大?
答:一般AFM仪器允许的最大高度差是10μm(部分仪器更小),对于表面起伏过大的样品,一方面可能超出仪器测试范围,另一方面可能导致跳针、针尖受损或污染,从而影响图像质量,增加损耗成本。
Q6、AFM测试中,对于导电性不佳的样品,是否需要喷金处理呢?
答:AFM的常规测试模式对样品导电性没有要求,部分电学模块测试,如KPFM,是需要样品导电的。由于金颗粒有一定尺寸,喷金会对形貌有一定影响,所以一般不建议喷金。