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郭老师19949121511
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Q1、AFM测试范围最好小于多少？一般能测多大?
答：小于80×80μm；能测10×10μm、20×20μm、50×50μm。
Q2、AFM 测试数据有几种格式？
答：spm和mdt格式，分别用NanoScope Analysis、IA软件打开。
Q3、KPFM是什么？
答：开尔文探针力显微镜。
Q4、AFM粉末样品制样的常用基底有哪些？
答：常用基底有3种：HOPG（高定向石墨），MICA（云母），Si-chip（硅片）。HOPG的优点是导电，主要用于导电样品的测试。MICA和Si-chip都是常用基底，主要是提供一个平面，可以根据参考文献或之前的测试条件来选取。
Q5、为什么AFM测试中，样品表面粗糙度不能太大？
答：一般AFM仪器允许的最大高度差是10μm（部分仪器更小），对于表面起伏过大的样品，一方面可能超出仪器测试范围，另一方面可能导致跳针、针尖受损或污染，从而影响图像质量，增加损耗成本。
Q6、AFM测试中，对于导电性不佳的样品，是否需要喷金处理呢？
答：AFM的常规测试模式对样品导电性没有要求，部分电学模块测试，如KPFM，是需要样品导电的。由于金颗粒有一定尺寸，喷金会对形貌有一定影响，所以一般不建议喷金。
