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球差校正透射电子显微镜
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产品简介:

河南校研大型研究型检测机构,是科技服务改变世界的践行者。 校研始终秉承“服务,不止于检测!”的理念,尽心尽力让科技进步更快,让产品质量更好,让人类生活更安全、更健康、更绿色!

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  • 常见问题



      测试案例


      1. 块体用FIB制样,厚度30nm左右;粉末提供10mg左右;
      2. 纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样;
      3. 含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性。

      常见问题

      1. 样品为什么会积碳,积碳有什么影响?

      答:样品中有机物的影响,制备过程含有机物,或者样品吸附空气中污染物;积碳会影响STEM模式的拍摄效果,让视野模糊不清。

      2. 有什么方法可以改善积碳带来的影响?

      答:等离子清洗制好样的载网,但有洗坏样品的风险,可以会导致负载颗粒脱落等风险;电子束辐照样品一段时间,理论上会有改善,但是实际不一定会有明显效果。

      3. 为什么拍不到原子分辨率的mappingeels

      答:原子相要求样品很薄,样品薄的话能谱信号和eels号会比较弱,不利于收集信号。那就要求样品很薄,很稳定,能长时间收集信号,且要求原子序数都比较大的。一般样品很难同时符合这几个要求。

      4. 一个样品会提供几张图片?

      每样品提供6-8张左右,具体根据样品的拍摄情况而定。


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